【技術(shù)指標(biāo)】
輻射類型:X,γ
探測(cè)器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體
測(cè)量范圍:0.01 ~ 200µSv/h
測(cè)量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs)
能量響應(yīng): 40 keV ~ 1.3 MeV
響應(yīng)時(shí)間:< 3 s
工作時(shí)間:4節(jié)AA1.5V電池
機(jī)械尺寸:主機(jī):寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄)
【技術(shù)指標(biāo)】
輻射類型:X,γ
探測(cè)器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體
測(cè)量范圍:0.01 ~ 200µSv/h
測(cè)量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs)
能量響應(yīng): 40 keV ~ 1.3 MeV
響應(yīng)時(shí)間:< 3 s
工作時(shí)間:4節(jié)AA1.5V電池
機(jī)械尺寸:主機(jī):寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄)
【技術(shù)指標(biāo)】
輻射類型:X,γ
探測(cè)器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體
測(cè)量范圍:0.01 ~ 200µSv/h
測(cè)量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs)
能量響應(yīng): 40 keV ~ 1.3 MeV
響應(yīng)時(shí)間:< 3 s
工作時(shí)間:4節(jié)AA1.5V電池
機(jī)械尺寸:主機(jī):寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄)